La tarjeta de prueba de evaluación SFP28 es adecuada para pruebas de productos de 25 Gbps

La placa de prueba de evaluación SFP28 es adecuada para pruebas de productos de 25 Gbps

Consideraciones de diseño de la placa de evaluación
Compatibilidad: La placa de evaluación debe ser compatible con diferentes marcas y modelos de módulos ópticos SFP28 de 25G para garantizar la versatilidad y flexibilidad en diferentes escenarios.

Estándares de interfaz: La placa de evaluación debe seguir interfaces estándar como SFF-8431 y SFF-8432 para garantizar la conexión y comunicación adecuadas con el módulo óptico.

Parámetros de rendimiento: La placa de evaluación debe ser capaz de medir y evaluar con precisión los parámetros clave de rendimiento del módulo óptico SFP28 de 25G, como la velocidad de transmisión, la distancia de transmisión, el consumo de energía, el rango de temperatura de funcionamiento, etc.

Fiabilidad: La placa de evaluación debe tener buena estabilidad y fiabilidad para garantizar el funcionamiento normal durante mucho tiempo y en entornos hostiles.
Facilidad de uso: La placa de evaluación debe proporcionar una interfaz de usuario amigable y una operación conveniente para facilitar a los usuarios la prueba de módulos y el registro de datos.

Requisitos funcionales de la placa de evaluación

Identificación y configuración del módulo: La placa de evaluación debe ser capaz de identificar y configurar automáticamente el módulo óptico SFP28 de 25G conectado, incluyendo su tipo, velocidad, modo de funcionamiento, etc.

Prueba de rendimiento: La placa de evaluación debe ser capaz de realizar pruebas de rendimiento en módulos ópticos, incluyendo pruebas de velocidad de transmisión, pruebas de tasa de error de bits, pruebas de potencia óptica, etc.

Monitorización y alarma: La placa de evaluación debe ser capaz de monitorizar el estado de funcionamiento del módulo óptico en tiempo real y enviar una señal de alarma cuando haya una anomalía, de modo que se puedan tomar medidas a tiempo.

Registro y análisis de datos: La placa de evaluación debe ser capaz de registrar datos de prueba y proporcionar capacidades de análisis de datos para ayudar a los usuarios a comprender mejor el rendimiento y la estabilidad del módulo óptico.